Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Outros autores: | |
| Summary: | Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. |
| Idioma: | ruso |
| Publicado: |
Москва, Техносфера, 2006
|
| Series: | Мир материалов и технологий |
| Subjects: | |
| Formato: | Libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117166 |