Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Résumé: | Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. |
| Langue: | russe |
| Publié: |
Москва, Техносфера, 2006
|
| Collection: | Мир материалов и технологий |
| Sujets: | |
| Format: | Livre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117166 |