Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля, пер. с англ.

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Брандон Д.
Altres autors: Каплан У.
Sumari:Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Idioma:rus
Publicat: Москва, Техносфера, 2006
Col·lecció:Мир материалов и технологий
Matèries:
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=117166

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 117166
005 20231031123554.0
010 |a 5948360180 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\126811 
090 |a 117166 
100 |a 20070531d2006 m y0rusy50 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля  |e пер. с англ.  |f Д. Брандон, У. Каплан  
210 |a Москва  |c Техносфера  |d 2006 
215 |a 377 с.  |c ил. 
225 1 |a Мир материалов и технологий 
320 |a Библиография в конце глав. 
320 |a Предметный указатель: с. 376-377. 
330 |a Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями. 
610 1 |a материаловедение 
610 1 |a материалы 
610 1 |a исследование 
610 1 |a микроструктура 
610 1 |a кристаллография 
610 1 |a кристаллические структуры 
610 1 |a дифракционный анализ 
610 1 |a оптическая микроскопия 
610 1 |a геометрическая оптика 
610 1 |a микроскопы 
610 1 |a конструкции 
610 1 |a электронная микроскопия 
610 1 |a микроанализ 
610 1 |a поверхности 
610 1 |a химический анализ 
610 1 |a рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия 
610 1 |a Оже-электроны 
610 1 |a ионная масс-спектроскопия 
610 1 |a количественный анализ 
610 1 |a стереология 
610 1 |a изображения 
610 1 |a автоматизированный анализ 
610 1 |a учебные пособия 
675 |a 620.18(075.8)  |v 3 
700 1 |a Брандон  |b Д. 
701 1 |a Каплан  |b У. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070531  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150529  |g PSBO 
900 |a Материаловедение 
900 |a Наноматериалы 
900 |a Методы исследования материалов и процессов 
942 |c BK 
953 |b 010600 
959 |a 46/20070529  |d 2  |e 275,00  |f АНЛ:1  |f ЧЗТЛ:1