Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.

Bibliographic Details
Main Author: Синдо Д Дайзуке
Other Authors: Оикава Т. Тецуо
Summary:Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ГТЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ГТЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ГТЭМ и метода АТХНЕМГ для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.Настольная книга материаловеда.
Language:Russian
Published: Москва, Техносфера, 2006
Series:Мир материалов и технологий
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=114144

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 114144
005 20231031122147.0
010 |a 5948360644 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\123444 
090 |a 114144 
100 |a 20070419d2006 k y0rusy50 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия  |e пер. с англ.  |f Д Синдо, Т. Оикава 
210 |a Москва  |c Техносфера  |d 2006 
215 |a 253 с.  |c ил. 
225 1 |a Мир материалов и технологий 
320 |a Библиография в конце глав. 
330 |a Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ГТЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ГТЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ГТЭМ и метода АТХНЕМГ для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.Настольная книга материаловеда. 
610 1 |a электронная микроскопия 
610 1 |a электроны 
610 1 |a материалы 
610 1 |a взаимодействие 
610 1 |a неупругое рассеяние 
610 1 |a аналитические электронные микроскопы 
610 1 |a эксплуатация 
610 1 |a составные части 
610 1 |a рентгеновские детекторы 
610 1 |a энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия 
610 1 |a количественный анализ 
610 1 |a метод ALCHEMI 
610 1 |a электронная дифракция 
610 1 |a электронная голография 
610 1 |a растровая электронная микроскопия 
610 1 |a методы пробоподготовки 
675 |a 620.18  |v 3 
700 1 |a Синдо  |b Д  |g Дайзуке 
701 1 |a Оикава  |b Т.  |g Тецуо 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070419  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20070621  |g PSBO 
942 |c BK 
959 |a 32/20070419  |d 1  |e 425,00  |f ЧЗТЛ:1