Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия пер. с англ.

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия, пер. с англ.

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Синдо Д Дайзуке
Outros autores: Оикава Т. Тецуо
Summary:Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ГТЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ГТЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ГТЭМ и метода АТХНЕМГ для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.Настольная книга материаловеда.
Publicado: Москва, Техносфера, 2006
Series:Мир материалов и технологий
Subjects:
электронная микроскопия
электроны
материалы
взаимодействие
неупругое рассеяние
аналитические электронные микроскопы
эксплуатация
составные части
рентгеновские детекторы
энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
количественный анализ
метод ALCHEMI
электронная дифракция
электронная голография
растровая электронная микроскопия
методы пробоподготовки
Formato: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=114144
Descripción
Descrición Física:253 с. ил.
Summary:Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ГТЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ГТЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ГТЭМ и метода АТХНЕМГ для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.Настольная книга материаловеда.
ISBN:5948360644

Títulos similares