Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Томашпольский Ю. Я. Юрий Яковлевич
Summary:На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления.
Sprog:russisk
Udgivet: Москва, Научный мир, 2006
Fag:
Format: Bog
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=113164

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 113164
005 20231031121732.0
010 |a 5891764040 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\122398 
090 |a 113164 
100 |a 20070406d2006 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия  |f Ю. Я. Томашпольский 
210 |a Москва  |c Научный мир  |d 2006 
215 |a 109 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 98-109. 
330 |a На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления. 
610 1 |a эмиссиометрия 
610 1 |a электронные микроскопы 
610 1 |a свободные электроны 
610 1 |a фазовые переходы 
610 1 |a редокс-процессы 
610 1 |a наноструктурированные вещества 
610 1 |a строение 
610 1 |a металлы 
610 1 |a сплавы 
610 1 |a окисление 
610 1 |a магматические расплавы 
610 1 |a деформационные процессы 
610 1 |a поверхностные слои 
610 1 |a сверхпроводники 
610 1 |a сегнетоэлектрики-полупроводники 
610 1 |a дефекты 
610 1 |a сверхпроводящие пленки 
610 1 |a кислород 
610 1 |a потери 
610 1 |a электронная бомбардировка 
675 |a 537.533.8  |v 3 
700 1 |a Томашпольский  |b Ю. Я.  |g Юрий Яковлевич 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070406  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220210  |g PSBO 
942 |c BK