Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Zusammenfassung: | Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами. Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры. Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах. Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования. Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров. |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Москва, Физматлит, 2006
|
| Schlagworte: | |
| Format: | Buch |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=113108 |
| Beschreibung: | 192 с. ил. |
|---|---|
| Zusammenfassung: | Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами. Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры. Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах. Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования. Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров. |
| ISBN: | 592210702X |