Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

Dades bibliogràfiques
Parent link:	Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2-х книгах/ Дж. Гоулдстейн [и др.]; под ред. В. И. Петрова. Кн. 1.— , 1984
Idioma:	rus
Publicat:	1984
Matèries:	Электронная микроскопия Рентгеноспектральный анализ > (химия) растровая электронная микроскопия рентгеновский микроанализ электронная оптика электронные пучки формирование спектрометры
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=108343

Ítems similars

Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Publicat: (Москва, Техносфера, 2009)

Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.
per: Энгель Л.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1986)

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
per: Рид С. Дж. Б.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2008)

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Publicat: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)

Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
per: Зевайль А. Ахмед
Publicat: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)

Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1985)

Практическая растровая электронная микроскопия: пер. с англ.
Publicat: (Москва, Мир, 1978)

Рентгено-спектральный электроннозондовый микроанализ
per: Батырев В. А. Вадим Алексеевич
Publicat: (Москва, Металлургия, 1982)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
per: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2010)

Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов
Publicat: (Новосибирск, Наука, 2000)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Publicat: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Электронно-зондовый микроанализ: пер. с англ.
per: Рид С.
Publicat: (Москва, Мир, 1979)

Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда: пер. с англ.
per: Биркс Л. С.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1966)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
per: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Publicat: (Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006)

Растровая оптическая микроскопия
per: Дюков Валентин Георгиевич
Publicat: (Москва, Наука, 1992)

Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.
Publicat: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
per: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Publicat: (Москва, Флинта, 2008)

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов: учебное пособие для академического бакалавриата
per: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
Publicat: (Москва, Юрайт, 2019)

Вып. 2; Приборы и методы физического металловедения
Publicat: (1974)

Метод Монте-Карло в рентгеноспектральном микроанализе
per: Афонин В. П. Валерий Петрович
Publicat: (Новосибирск, Наука, 1989)

Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
per: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Publicat: (Томск, Изд-во ТПУ, 2004)

Седьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, Черноголовка, 28-30 ноября 1979 г.: тезисы докладов
Publicat: (Черноголовка, Изд-во ОИХФ АН СССР, 1979)

Введение в растровую электронную микроскопию
per: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
Publicat: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Publicat: (Москва, Наука, 1982)

Ч. 2; Восьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, 21-23 сентября 1982 г.
Publicat: (1982)

Электронная микроскопия
Publicat: (Москва, Гостехиздат, 1954)

Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов: пер. с англ.
per: Фульц Б. Брент
Publicat: (Москва, Техносфера, 2011)

Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров
per: Чалых А. Е. Анатолий Евгеньевич
Publicat: (Москва, Наука, 1990)

Электронная оптика и электронная микроскопия: пер. с англ.
per: Хокс П.
Publicat: (Москва, Мир, 1974)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
per: Синдо Д Дайзуке
Publicat: (Москва, Техносфера, 2006)

Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
Publicat: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения: пер. с англ.
per: Спенс Дж. Джон
Publicat: (Москва, Наука, 1986)

Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
per: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Publicat: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
per: Шиммель Г. Герхард
Publicat: (Москва, Мир, 1972)

Т. 3: Электронные пучки в диагностике твердого тела; Пучки заряженных частиц и твердое тело
Publicat: (1990)

Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов: [учебное пособие]
per: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Publicat: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)

Методы количественного рентгеноспектрального анализа
per: Вайнштейн Э. Е. Эммануил Ефимович
Publicat: (Москва, Изд-во Академии Наук СССР, 1956)

Структура и фазовый состав суперсплава на основе Ni-Al-Cr, легированного Re и La; Перспективы развития фундаментальных наук
per: Никоненко Е. Л. Елена Леонидовна
Publicat: (2015)

Рентгеноспектральный анализ. Вопросы теории и способы унификации
per: Верховодов П. А. Петр Александрович
Publicat: (Киев, Наукова думка, 1984)