Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии

Bibliographic Details
Corporate Author: Российская академия наук (РАН) Институт общей физики им. А. М. Прохорова (ИОФ)
Other Authors: Новиков Ю. А. (340)
Summary:Представлены результаты фундаментальных и прикладных научных исследований и разработок по решению проблемы измерений линейных размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах (1 им - 100 мкм), осваиваемых микроэлектроникой и нанотехнологией. Создана единая концепция передачи размера единицы длины от Государственного первичного эталона метра потребителю в нанометровый диапазон без существенной потери точности. Описаны системы на основе растровых электронных и атомно-силовых микроскопов, реализующих эту концепцию. Сборник предназначен для научных работников и специалистов, работающих в наукоемких отраслях промышленности, аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в области микроэлектроники и нанотехнологии.
Language:Russian
Published: Москва, Наука, 2006
Series:Труды Института общей физики (ИОФАН) Т. 62
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=107155

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 107155
005 20231031115200.0
010 |a 5020341304 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\115696 
090 |a 107155 
100 |a 20061219d2006 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии  |f Российская академия наук (РАН), Институт общей физики им. А. М. Прохорова (ИОФ) ; отв. ред. Ю. А. Новиков 
210 |a Москва  |c Наука  |d 2006 
215 |a 148 с.  |c ил. 
225 1 |a Труды Института общей физики (ИОФАН)  |v Т. 62 
320 |a Библиогр. в конце ст. 
330 |a Представлены результаты фундаментальных и прикладных научных исследований и разработок по решению проблемы измерений линейных размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах (1 им - 100 мкм), осваиваемых микроэлектроникой и нанотехнологией. Создана единая концепция передачи размера единицы длины от Государственного первичного эталона метра потребителю в нанометровый диапазон без существенной потери точности. Описаны системы на основе растровых электронных и атомно-силовых микроскопов, реализующих эту концепцию. Сборник предназначен для научных работников и специалистов, работающих в наукоемких отраслях промышленности, аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в области микроэлектроники и нанотехнологии. 
610 1 |a микроэлектроника 
610 1 |a нанотехнология 
610 1 |a нанометрология 
610 1 |a лазерные измерители 
610 1 |a растровая электронная микроскопия 
610 1 |a атомно-силовые микроскопы 
610 1 |a электронные микроскопы 
610 1 |a электронные зонды 
610 1 |a геометрические характеристики 
610 1 |a измерения 
610 1 |a линейные измерения 
675 |a 621.382.049.77  |v 3 
675 |a 620.3  |v 3 
702 1 |a Новиков  |b Ю. А.  |4 340 
712 0 2 |a Российская академия наук (РАН)  |b Институт общей физики им. А. М. Прохорова (ИОФ)  |c (Москва)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\303 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20061219  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20120420  |g PSBO 
942 |c BK