Металлы и сплавы. Анализ и исследование. Методы атомной спектроскопии. Атомно-эмиссионный, атомно-абсорбционный и ренгенофлуоресцентный анализ, справочник
| Other Authors: | , , |
|---|---|
| Summary: | Очередной том серии справочных изданий «МЕТАЛЛЫ И СПЛАВЫ» посвящен современным возможностям использования основных методов аналитического контроля состава металлических материалов — методов атомно-эмиссионного, атомно-абсорбционного и рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, интенсивное развитие и широкое практическое применение которых началось во второй половине XX в. В сжатом виде изложены концептуальные идеи российской аналитической школы и теоретические основы методов. Дано описание применяемой аппаратуры, представлены ее характеристики, диапазоны определяемых содержаний и пределы обнаружения элементов, метрологические характеристики соответствующих методик анализа, а также приведены обширные справочные данные, необходимые для практического использования методов атомной спектроскопии в аналитических целях. Книга предназначена для научного и инженерно-технического персонала аналитических лабораторий, химиков-материаловедов, преподавателей и студентов университетов, химико-технологических и химико-металлургических вузов, а также для специалистов смежных профессий. |
| Published: |
Санкт-Петербург, Профессионал, 2007
|
| Series: | Металлы и сплавы. Анализ и исследование |
| Subjects: | |
| Format: | Book |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=101538 |
| Physical Description: | 716 с. ил. |
|---|---|
| Summary: | Очередной том серии справочных изданий «МЕТАЛЛЫ И СПЛАВЫ» посвящен современным возможностям использования основных методов аналитического контроля состава металлических материалов — методов атомно-эмиссионного, атомно-абсорбционного и рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, интенсивное развитие и широкое практическое применение которых началось во второй половине XX в. В сжатом виде изложены концептуальные идеи российской аналитической школы и теоретические основы методов. Дано описание применяемой аппаратуры, представлены ее характеристики, диапазоны определяемых содержаний и пределы обнаружения элементов, метрологические характеристики соответствующих методик анализа, а также приведены обширные справочные данные, необходимые для практического использования методов атомной спектроскопии в аналитических целях. Книга предназначена для научного и инженерно-технического персонала аналитических лабораторий, химиков-материаловедов, преподавателей и студентов университетов, химико-технологических и химико-металлургических вузов, а также для специалистов смежных профессий. |
| ISBN: | 5912590011 |