Результаты поиска - Samuelson L. Lars

  • Отображение 1 - 4 результаты of 4
Уточнить результаты
  1. 1
    X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, iss. 7

    X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, iss. 7

    Опубликовано 2017
    Другие авторы: Полный текст
    Электронный ресурс Статья
  2. 2
    Revealing misfit dislocations in InAs x P1−x -InP core-shell nanowires by x-ray diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, iss. 50

    Revealing misfit dislocations in InAs x P1−x -InP core-shell nanowires by x-ray diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, iss. 50

    Опубликовано 2019
    Другие авторы: Полный текст
    Электронный ресурс Статья
  3. 3
    Influence of Contacts and Applied Voltage on a Structure of a Single GaN Nanowire; Applied Sciences; Vol. 11, iss. 20

    Influence of Contacts and Applied Voltage on a Structure of a Single GaN Nanowire; Applied Sciences; Vol. 11, iss. 20

    Опубликовано 2021
    Другие авторы: Полный текст
    Электронный ресурс Статья
  4. 4
    Bragg coherent x-ray diffractive imaging of a single indium phosphide nanowire; Journal of Optics; Vol. 18, iss. 6

    Bragg coherent x-ray diffractive imaging of a single indium phosphide nanowire; Journal of Optics; Vol. 18, iss. 6

    Опубликовано 2016
    Другие авторы: Полный текст
    Электронный ресурс Статья

Инструменты поиска: