Αποτελέσματα αναζήτησης - Samuelson L. Lars
- Εμφανίζονται 1 - 4 Αποτελέσματα από 4
-
1
X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, iss. 7
Έκδοση 2017Άλλοι συγγραφείς:Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Λήψη πλήρους κειμένου
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου -
2
Revealing misfit dislocations in InAs x P1−x -InP core-shell nanowires by x-ray diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, iss. 50
Έκδοση 2019Άλλοι συγγραφείς:Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Λήψη πλήρους κειμένου
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου -
3
Influence of Contacts and Applied Voltage on a Structure of a Single GaN Nanowire; Applied Sciences; Vol. 11, iss. 20
Έκδοση 2021Άλλοι συγγραφείς:Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Λήψη πλήρους κειμένου
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου -
4
Bragg coherent x-ray diffractive imaging of a single indium phosphide nanowire; Journal of Optics; Vol. 18, iss. 6
Έκδοση 2016Άλλοι συγγραφείς:Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Λήψη πλήρους κειμένου
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
Εργαλεία αναζήτησης:
Σχετικά θέματα
труды учёных ТПУ
электронный ресурс
нанопроволоки
Bragg coherent diffraction
GaN nanowires
X-Ray
X-rays
finite element method
nitrides
physical and chemical processes
piezoelectric effect
plastics
scattering
дифракция
контакты
метод конечных элементов
нанопровода
напряжения
нитриды
пластмассы
пьезоэлектрический эффект
рассеяние
рентген
рентгеновская дифракция
физико-химические процессы