खोज परिणाम - Титов А. В. Александр Валерьевич
- प्रदर्शित 1 - 5 परिणाम 5
-
1
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... द्वारा Титов А. В. Александр Валерьевич
प्रकाशित Томск, 2012बोधानक: लोड हो रहा है…पूर्ण पाठ प्राप्त करें
स्थित: लोड हो रहा है…
इलेक्ट्रोनिक पुस्तक -
2
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... द्वारा Титов А. В. Александр Валерьевич
प्रकाशित Томск, 2012बोधानक: लोड हो रहा है…
स्थित: लोड हो रहा है…पुस्तक लोड हो रहा है… -
3
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... द्वारा Титов А. В. Александр Валерьевич
प्रकाशित Томск, 2012बोधानक: लोड हो रहा है…
स्थित: लोड हो रहा है…पुस्तक लोड हो रहा है… -
4
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... द्वारा Титов А. В. Александр Валерьевич
प्रकाशित Томск, 2012बोधानक: लोड हो रहा है…पूर्ण पाठ प्राप्त करें
स्थित: लोड हो रहा है…
इलेक्ट्रोनिक पुस्तक -
5
Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла द्वारा Кузнецов Г. В. Гений Владимирович
प्रकाशित 2008अन्य लेखक:बोधानक: लोड हो रहा है…पूर्ण पाठ प्राप्त करें
स्थित: लोड हो रहा है…
इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय
खोज साधन:
संबंधित विषय
труды учёных ТПУ
Металлы Окисление высокотемпературное
Радиоэлектронная аппаратура Надежность Прогнозирование
длительная эксплуатация
математическое моделирование
надежные системы
радиотехнические материалы
радиоэлектронное оборудование
тестирование
токоведующие части
физическое моделирование
электронная техника
электронный ресурс
авторефераты диссертаций
диссертации
металлы
окисление
полупроводниковые приборы
проводники
температурные поля
транзисторы
численное моделирование