Søgeresultater - Титов А. В. Александр Валерьевич
- Showing 1 - 5 results of 5
-
1
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... af Титов А. В. Александр Валерьевич
Udgivet Томск, 2012Klassifikationsnummer: Loading...Få fuldtekst
Findes i: Loading...
Electronisk Bog -
2
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... af Титов А. В. Александр Валерьевич
Udgivet Томск, 2012Klassifikationsnummer: Loading...
Findes i: Loading...Bog Loading... -
3
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... af Титов А. В. Александр Валерьевич
Udgivet Томск, 2012Klassifikationsnummer: Loading...
Findes i: Loading...Bog Loading... -
4
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... af Титов А. В. Александр Валерьевич
Udgivet Томск, 2012Klassifikationsnummer: Loading...Få fuldtekst
Findes i: Loading...
Electronisk Bog -
5
Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла af Кузнецов Г. В. Гений Владимирович
Udgivet 2008Andre forfattere:Klassifikationsnummer: Loading...Få fuldtekst
Findes i: Loading...
Electronisk Book Chapter
Søgeredskaber:
Relaterede emner
труды учёных ТПУ
Металлы Окисление высокотемпературное
Радиоэлектронная аппаратура Надежность Прогнозирование
длительная эксплуатация
математическое моделирование
надежные системы
радиотехнические материалы
радиоэлектронное оборудование
тестирование
токоведующие части
физическое моделирование
электронная техника
электронный ресурс
авторефераты диссертаций
диссертации
металлы
окисление
полупроводниковые приборы
проводники
температурные поля
транзисторы
численное моделирование