Canlyniadau Chwilio - Титов А. В. Александр Валерьевич
- Dangos 1 - 5 canlyniadau o 5
-
1
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... gan Титов А. В. Александр Валерьевич
Cyhoeddwyd Томск, 2012Rhif Galw: Llwytho...Cael y testun llawn
Wedi'i leoli: Llwytho...
Electronig Llyfr -
2
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... gan Титов А. В. Александр Валерьевич
Cyhoeddwyd Томск, 2012Rhif Galw: Llwytho...
Wedi'i leoli: Llwytho...Llyfr Llwytho... -
3
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... gan Титов А. В. Александр Валерьевич
Cyhoeddwyd Томск, 2012Rhif Galw: Llwytho...
Wedi'i leoli: Llwytho...Llyfr Llwytho... -
4
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... gan Титов А. В. Александр Валерьевич
Cyhoeddwyd Томск, 2012Rhif Galw: Llwytho...Cael y testun llawn
Wedi'i leoli: Llwytho...
Electronig Llyfr -
5
Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла gan Кузнецов Г. В. Гений Владимирович
Cyhoeddwyd 2008Awduron Eraill:Rhif Galw: Llwytho...Cael y testun llawn
Wedi'i leoli: Llwytho...
Electronig Pennod Llyfr
Offerynnau Chwilio:
Pynciau Perthynol
труды учёных ТПУ
Металлы Окисление высокотемпературное
Радиоэлектронная аппаратура Надежность Прогнозирование
длительная эксплуатация
математическое моделирование
надежные системы
радиотехнические материалы
радиоэлектронное оборудование
тестирование
токоведующие части
физическое моделирование
электронная техника
электронный ресурс
авторефераты диссертаций
диссертации
металлы
окисление
полупроводниковые приборы
проводники
температурные поля
транзисторы
численное моделирование