Resultats de la cerca - Титов А. В. Александр Валерьевич
- Mostrar 1 - 5 resultats de 5
-
1
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... per Титов А. В. Александр Валерьевич
Publicat Томск, 2012Signatura: Carregant…Obtenir text complet
Localitzat: Carregant…
Electrònic Llibre -
2
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... per Титов А. В. Александр Валерьевич
Publicat Томск, 2012Signatura: Carregant…
Localitzat: Carregant…Llibre Carregant… -
3
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... per Титов А. В. Александр Валерьевич
Publicat Томск, 2012Signatura: Carregant…
Localitzat: Carregant…Llibre Carregant… -
4
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... per Титов А. В. Александр Валерьевич
Publicat Томск, 2012Signatura: Carregant…Obtenir text complet
Localitzat: Carregant…
Electrònic Llibre -
5
Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла per Кузнецов Г. В. Гений Владимирович
Publicat 2008Altres autors:Signatura: Carregant…Obtenir text complet
Localitzat: Carregant…
Electrònic Capítol de llibre
Eines de cerca:
Matèries relacionades
труды учёных ТПУ
Металлы Окисление высокотемпературное
Радиоэлектронная аппаратура Надежность Прогнозирование
длительная эксплуатация
математическое моделирование
надежные системы
радиотехнические материалы
радиоэлектронное оборудование
тестирование
токоведующие части
физическое моделирование
электронная техника
электронный ресурс
авторефераты диссертаций
диссертации
металлы
окисление
полупроводниковые приборы
проводники
температурные поля
транзисторы
численное моделирование