نتائج البحث - Титов А. В. Александр Валерьевич
- يعرض 1 - 5 نتائج من 5
-
1
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... حسب Титов А. В. Александр Валерьевич
منشور في Томск, 2012رقم الاستدعاء: جاري التحميل…احصل على النص الكامل
المكان: جاري التحميل…
الكتروني كتاب -
2
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидат... حسب Титов А. В. Александр Валерьевич
منشور في Томск, 2012رقم الاستدعاء: جاري التحميل…
المكان: جاري التحميل…كتاب جاري التحميل… -
3
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... حسب Титов А. В. Александр Валерьевич
منشور في Томск, 2012رقم الاستدعاء: جاري التحميل…
المكان: جاري التحميل…كتاب جاري التحميل… -
4
Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования диссертация на соискание ученой степени кандидата технически... حسب Титов А. В. Александр Валерьевич
منشور في Томск, 2012رقم الاستدعاء: جاري التحميل…احصل على النص الكامل
المكان: جاري التحميل…
الكتروني كتاب -
5
Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла حسب Кузнецов Г. В. Гений Владимирович
منشور في 2008مؤلفون آخرون:رقم الاستدعاء: جاري التحميل…احصل على النص الكامل
المكان: جاري التحميل…
الكتروني فصل الكتاب
أدوات البحث:
موضوعات ذات صلة
труды учёных ТПУ
Металлы Окисление высокотемпературное
Радиоэлектронная аппаратура Надежность Прогнозирование
длительная эксплуатация
математическое моделирование
надежные системы
радиотехнические материалы
радиоэлектронное оборудование
тестирование
токоведующие части
физическое моделирование
электронная техника
электронный ресурс
авторефераты диссертаций
диссертации
металлы
окисление
полупроводниковые приборы
проводники
температурные поля
транзисторы
численное моделирование