Resultats de la cerca - Румянцев Ю. В.
- Mostrar 1 - 1 resultats de 1
 
- 
            1
Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика per Новаш И. В.
Publicat Минск, БНТУ, 2021Altres autors:Signatura: Carregant…Obtenir text complet
Localitzat: Carregant…
Obtenir text complet
Electrònic Llibre 
Eines de cerca:
Matèries relacionades
              автономный режим
              выработка тестовых сигналов
              вычислительный эксперимент
              гибкая структура
              жесткая структура
              испытание устройств
              компьютерные программные комплексы
              математические модели
              математическое моделирование
              моделирование энергосистемы
              обобщенный электроэнергетический объект
              программно-аппаратные комплексы
              программные комплексы
              режимы реального времени
              тестовые информационные сигналы
              устройства релейной защиты