Resultados da pesquisa - Геллер В.М. Владимир Михайлович
- A mostrar 1 - 5 resultados de 5
-
1
Плазменные высокочастотные технологии для электронного приборостроения Por Геллер В. М. Владимир Михайлович
Publicado em Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2011Área/Cota: A carregar...
Localização: A carregar...Livro A carregar... -
2
Аппаратурное обеспечение физико-технологических задач электронного приборостроения Por Геллер В. М. Владимир Михайлович
Publicado em Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2001Área/Cota: A carregar...
Localização: A carregar...Livro A carregar... -
3
Плазменные высокочастотные технологии для электронного приборостроения Por Геллер В.М. Владимир Михайлович
Publicado em Новосибирск, Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2011Área/Cota: A carregar...Obter o texto integral
Localização: A carregar...
Obter o texto integral
Recurso Electrónico Livro -
4
Фотоэмиссионные свойства тонких пленок антимонидовов щелочных металлов, сконденсированных в условиях сверхвысокого вакуума (СВВ) диссертация на соискание ученой степени кандидата т... Por Нестеров И. А. Игорь Анатольевич
Publicado em Новосибирск, 2009Outros Autores: “...Геллер В. М. Владимир Михайлович...”
Área/Cota: A carregar...
Localização: A carregar...Livro A carregar... -
5
Фотоэмиссионные свойства тонких пленок антимонидовов щелочных металлов, сконденсированных в условиях сверхвысокого вакуума (СВВ) автореферат диссертации на соискание ученой степени... Por Нестеров И. А. Игорь Анатольевич
Publicado em Новосибирск, 2009Outros Autores: “...Геллер В. М. Владимир Михайлович...”
Área/Cota: A carregar...
Localização: A carregar...Livro A carregar...
Ferramentas de pesquisa:
Assuntos relacionados
Катоды фотоэлектронные
влияние
выращивание
генераторы
гетеропереходы
история
камеры
квантовый выход
массообмен
материалы
напыление
низкотемпературная плазма
определение
поверхность
полупроводники
полупроводниковая техника
применение
сверхвысокий вакуум
современное состояние
современные методы
спектральное отражение
спектральные характеристики
статистический анализ
стекло
стехиометрия
толщина
трещиноватость
фотокатоды
химически активные соединения
чувствительность