Zoekresultaten - Геллер В.М. Владимир Михайлович
- Toon 1 - 5 resultaten van 5
-
1
Плазменные высокочастотные технологии для электронного приборостроения door Геллер В. М. Владимир Михайлович
Gepubliceerd in Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2011Plaatsingsnummer: Wordt geladen…
Locatie: Wordt geladen…Boek Wordt geladen… -
2
Аппаратурное обеспечение физико-технологических задач электронного приборостроения door Геллер В. М. Владимир Михайлович
Gepubliceerd in Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2001Plaatsingsnummer: Wordt geladen…
Locatie: Wordt geladen…Boek Wordt geladen… -
3
Плазменные высокочастотные технологии для электронного приборостроения door Геллер В.М. Владимир Михайлович
Gepubliceerd in Новосибирск, Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2011Plaatsingsnummer: Wordt geladen…Volledige tekst
Locatie: Wordt geladen…
Volledige tekst
Elektronisch Boek -
4
Фотоэмиссионные свойства тонких пленок антимонидовов щелочных металлов, сконденсированных в условиях сверхвысокого вакуума (СВВ) диссертация на соискание ученой степени кандидата т... door Нестеров И. А. Игорь Анатольевич
Gepubliceerd in Новосибирск, 2009Andere auteurs: “…Геллер В. М. Владимир Михайлович…”
Plaatsingsnummer: Wordt geladen…
Locatie: Wordt geladen…Boek Wordt geladen… -
5
Фотоэмиссионные свойства тонких пленок антимонидовов щелочных металлов, сконденсированных в условиях сверхвысокого вакуума (СВВ) автореферат диссертации на соискание ученой степени... door Нестеров И. А. Игорь Анатольевич
Gepubliceerd in Новосибирск, 2009Andere auteurs: “…Геллер В. М. Владимир Михайлович…”
Plaatsingsnummer: Wordt geladen…
Locatie: Wordt geladen…Boek Wordt geladen…
Zoekinstrumenten:
Gerelateerde Onderwerpen
Катоды фотоэлектронные
влияние
выращивание
генераторы
гетеропереходы
история
камеры
квантовый выход
массообмен
материалы
напыление
низкотемпературная плазма
определение
поверхность
полупроводники
полупроводниковая техника
применение
сверхвысокий вакуум
современное состояние
современные методы
спектральное отражение
спектральные характеристики
статистический анализ
стекло
стехиометрия
толщина
трещиноватость
фотокатоды
химически активные соединения
чувствительность